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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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QptLuxSD是一款創(chuàng)新性的光學(xué)表面瑕疵檢測(cè)，具備高重復(fù)性和準(zhǔn)確性，系統(tǒng)根據(jù)設(shè)定的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成詳細(xì)的通過(guò)/失敗報(bào)告，與光學(xué)行業(yè)現(xiàn)在很多的具有很強(qiáng)主觀性的人工檢驗(yàn)以及其他手動(dòng)檢驗(yàn)設(shè)備相比，提供光學(xué)表面質(zhì)量控制性能，可以廣泛用于光學(xué)元件生產(chǎn)、出貨控制、進(jìn)料檢驗(yàn)等過(guò)程。
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光學(xué)表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)